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芯片测试常见术语

系统梳理芯片测试领域的核心英文术语与设备概念。包括DUT（被测器件）、ATE（自动测试设备）、Handler（分选机）、Prober（探针台）、Loadboard（测试板）、Bin（分类结果）、Yield（良率）等。每个术语均配合实际应用场景说明，帮助学员快速建立专业词汇体系，为阅读技术文档、操作测试设备、参与工程讨论扫清语言障碍。