
测试数据基础
测试项、测试值、Limit、Result
深入解析芯片测试核心四要素:测试项定义、实测数值采集、上下限...
2026年6月4日
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测试数据是良率分析的根本。本模块重点讲解CSV与Excel等常见测试数据格式的整理技巧,围绕测试项、测试值、Limit及Result等关键字段,教授PASS/FAIL判断逻辑。同时深入讲解数据清洗方法,包括缺失值处理、异常值剔除、字段格式统一等,确保数据质量。学员将掌握如何构建规范化的测试数据集,为后续良率统计、Bin分类及异常追溯打下坚实基础,提升数据处理效率与准确性。


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