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Wafer Map与报告输出

Wafer Map是晶圆测试结果的空间化呈现工具。本模块讲解Wafer Map的基础结构与解读方法，帮助学员观察晶圆不同区域的失效分布，识别区域性异常（如边缘失效、中心集中或划伤痕迹等）。学员将学习如何将测试数据图表化，制作专业的异常分析报告与测试总结报告。课程强调从数据到可视化的转化技巧，提升报告的说服力与可读性，为工程决策和客户沟通提供清晰、直观的依据。