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典型芯片测试项目

精选测试案例，将理论知识应用于具体型号。项目包括TLV70233 LDO电源芯片的线性/负载调整率测试、GX100温度传感器的精度与响应时间验证、74LS138译码器的逻辑功能与传输延时测量、CD4511驱动芯片的输出能力评估等。学员将在导师指导下完成测试计划、搭建环境、执行测试并撰写报告，快速积累实战经验，胜任典型电源、数字、传感器芯片的测试任务。