
Limit与Bin设计
测试单位和精度
芯片测试中单位换算与精度控制直接影响数据准确性。本文详解电压...
2026年6月2日
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Limit与Bin设计直接决定测试结果的判定与分类。学员需掌握如何根据Datasheet设置测试项的上下限,明确测试单位与精度要求;理解PASS/FAIL的判定逻辑,避免临界误判;设计合理的Bin分类逻辑,区分良品、各类不良品(如参数超差、功能失效)以及异常品(如接触异常、超时)。本模块强调分类的清晰性与可追溯性,便于后续良率分析和生产管理。


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