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异常数据分析

异常数据往往隐藏着良率损失的根源。本模块聚焦芯片测试中的常见异常类型，包括单项Fail异常、接触异常、参数漂移、测试限值设置异常以及设备或治具异常等。学员将学习如何通过数据特征快速区分异常类别，掌握批次异常的综合判断方法。课程结合实际案例，讲解异常数据的排查流程与验证手段，帮助工程师在量产测试中及时发现并解决问题，减少误判与漏测，保障测试结果的真实可靠。