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数字逻辑芯片测试项目

项目覆盖数字逻辑芯片的功能验证流程，从理解芯片真值表开始，学习测试向量（Pattern）的基本编写方法，执行功能测试并完成PASS/FAIL判定。通过典型门电路、缓冲器或触发器等案例，训练学员搭建功能测试序列、比对预期输出与实际输出，掌握数字测试的核心逻辑，为ATE平台上的数字模块测试建立扎实的方法论。