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良率与数据分析

芯片测试的核心目标之一是通过数据驱动良率提升。本课程系统讲解良率数据分析的方法论，涵盖测试数据基础整理、良率计算与趋势监控、Bin分类统计、异常定位分析及Wafer Map可视化等关键环节。学员将掌握从原始测试数据到有效决策的完整流程，学会识别生产过程中的薄弱点，快速响应良率波动。课程结合实战案例，帮助测试工程师建立系统化的数据分析思维，为提升芯片成品率与可靠性提供有力支撑。